Koç Üniversitesi'nde gerçekleştirilecek hh-XRF'19 İstanbul Çalıştayı, Kültür Varlıkları ve Müzeler Genel Müdürlüğü'ne bağlı birimlere, Restorasyon ve Konservasyon Laboratuvar Müdürlüklerine, müzelere, üniversitelerin restorasyon, arkeometri, arkeoloji, müzecilik vb. ilgili bölümlerine; Araştırma Merkezlerine ve yüzey teknolojileri araştırma merkezlerine hitap ediyor.

hh-XRF'19 İstanbul Çalıştayı, Prof. Dr. Hadi Özbal Onuruna, 8-10 Nisan'da Koç Üniversitesi Kurucular Salonu'nda düzenlenecek . 

hh-XRF spektrometresi ile eski eserler üzerinde çalışanlara yönelik veri tabanı hedefleniyor

hh-XRF'19 Çalıştayının temel amacı; eski eserlerde hh-XRF kullanarak araştırma yapan uzmanların teorik ve pratik konularda bilgi birikimini arttırarak elde edilen bilimsel verilerin bilim dünyasıyla en doğru biçimde paylaşılmasına katkı sağlamak,  hh-XRF spektrometresi ile eski eserler üzerinde çalışan akademi, araştırma ve uygulama laboratuvarları arasında sürdürülebilir dil birliği ve iş ortaklığı kurmak ve bu sayede ulusal bir veri tabanı oluşturulması yolunda ilk adımı atmak.olarak açıklandı.

hh-XRF'19 Çalıştayına kimler katılmalı?

Çalıştaya; Kültür Varlıkları ve Müzeler Genel Müdürlüğü'ne bağlı birimler; Restorasyon ve Konservasyon Laboratuvar Müdürlükleri, müzeler ve diğer laboratuvarlar, Üniversitelerin ilgili bölümleri; restorasyon ve konservasyon, arkeometri, arkeoloji, müzecilik, nükleer uygulamalı bilimler ve diğerleri ile Araştırma Merkezleri ; nükleer araştırma merkezleri, yüzey teknolojileri araştırma merkezleri, yüksek teknoloji enstitüleri, arkeometri araştırma merkezlerinde görevli ve eğitim görenlerin katılımı bekleniyor

hh-XRF'19 İn istanbul Çalıştayının konu başlıkları

Endüstriyel alanlar için hazırlanmış standart modların özellikleri ve arkeoloji alanında kullanımı Spesifik araştırmalar için özel modların geliştirilmesine yönelik öneriler X-ışınının farklı malzemelerde penetrasyon derinliği ve analiz sonuçlarına etkisi Çok katmanlı örneklerin yüzey özelliklerine bağlı kısıtlamalar ve çözüm önerileri Hh-XRF spektrometrelerinin teknik özelliklerine bağlı kısıtlamalar ve çözüm önerileri Vaka incelemeleri üzerinden yöntem ve bulguların değerlendirilmesi Kullanıcıların x-ışınlarından korunmasına yönelik iş güvenliği öneriler ve X-ışını prensibiyle çalışan cihazların bulundurulmasına ilişkin yasal yükümlülükler. Taş, metal, boyalı yüzeyler, pişmiş toprak ve sırlı yüzeyler, altın kaplama yüzeyler, kemik vb malzemelerde inorganik yapı incelemeleri özelinde uygulamalı multidisipliner atölye çalışmaları.

Başvuru ve kayıt için hhxrf19@gmail.com mail adresi kullanılabilir, çalıştayla ilgili ayrıntılı bilgiler https://www.hhxrf19.com adresindeki web sitesinden edinilebilir.

Handheld X-ray fluorescence (HHXRF) nedir?: Elde taşınabilir X-ışını floresansı olarak Türkçeleştirilebilecek teknoloji modern bir analiz tekniğidir.

XRF, "X-Işını Floresans" anlamına gelir ve çok çeşitli materyallerin temel bileşimlerini belirlemek için uzun yıllardır kullanılan bir malzeme analiz tekniğidir. Özellikle metal alaşımların, minerallerin ve petrol ürünlerin bileşimlerini analiz etmede kullanılır. X-ışınları elektromanyetik spektrumun bir parçasını oluşturur. Ultraviyolenin yüksek enerjili tarafındadırlar ve enerjileri kiloelektron volt veya nanometre dalgaboyu ile ifade edilir. XRF ile magnezyumdan uranyuma kadar katı maddeler, sıvılar ve tozlardaki ppm(tonda gram) ila %100 arasında değişen konsantrasyonlarda elementleri analiz edebilir.